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Acceso abierto2017_Isaza_etal_RIDTEC.pdf.jpg2017Evaluación de la fiabilidad de microprocesadores COTS mediante las infraestructuras de depuración On-ChipIsaza-González, José; Serrano-Cases, Alejandro; Restrepo Calle, Felipe; Cuenca-Asensi, Sergio; Martínez-Álvarez, Antonio
Acceso abierto2017_Medina_etal_Sensors.pdf.jpg11-nov-2017A Comparison of FPGA and GPGPU Designs for Bayesian Occupancy FiltersMedina-Valdés, Luis; Diez-Ochoa, Miguel; Correal, Raul; Cuenca-Asensi, Sergio; Serrano-Cases, Alejandro; Godoy, Jorge; Martínez-Álvarez, Antonio; Villagrá, Jorge
Acceso abierto2019_Serrano-Cases_etal_IEEE-TNS_final.pdf.jpgjul-2019Nonintrusive Automatic Compiler-Guided Reliability Improvement of Embedded Applications Under Proton IrradiationSerrano-Cases, Alejandro; Morilla, Yolanda; Martín-Holgado, Pedro; Cuenca-Asensi, Sergio; Martínez-Álvarez, Antonio
Acceso abiertoPena-Fernandez_etal_2022_IEEE-TNS_final.pdf.jpg7-feb-2022Hybrid Lockstep Technique for Soft Error MitigationPeña-Fernández, Manuel; Serrano-Cases, Alejandro; Lindoso, Almudena; Cuenca-Asensi, Sergio; Entrena, Luis; Morilla, Yolanda; Martín-Holgado, Pedro; Martínez-Álvarez, Antonio
Acceso restringido2018_Albandes_etal_MicroelectrReliab_final.pdf.jpgsep-2018Design of approximate-TMR using approximate library and heuristic approachesAlbandes, Iuri; Serrano-Cases, Alejandro; Martins, M.; Martínez-Álvarez, Antonio; Cuenca-Asensi, Sergio; Kastensmidt, Fernanda L.
Acceso restringido2019_Pena-Fernandez_etal_MicroelectrReliab_final.pdf.jpgsep-2019Dual-Core Lockstep enhanced with redundant multithread support and control-flow error detectionPeña-Fernández, Manuel; Serrano-Cases, Alejandro; Lindoso, Almudena; García-Valderas, Mario; Entrena, Luis; Martínez-Álvarez, Antonio; Cuenca-Asensi, Sergio
Acceso abiertoSerrano-Cases_etal_2020_IEEE-TNS_final.pdf.jpg11-may-2020Empirical Mathematical Model of Microprocessor Sensitivity and Early Prediction to Proton and Neutron Radiation-Induced Soft ErrorsSerrano-Cases, Alejandro; Reyneri, Leonardo M.; Morilla, Yolanda; Cuenca-Asensi, Sergio; Martínez-Álvarez, Antonio
Acceso abiertoSerrano-Cases_etal_2020_JElectronTest_final.pdf.jpgfeb-2020Multi-Threaded Mitigation of Radiation-Induced Soft Errors in Bare-Metal Embedded SystemsSerrano-Cases, Alejandro; Restrepo Calle, Felipe; Cuenca-Asensi, Sergio; Martínez-Álvarez, Antonio
Acceso abierto2019_Reyneri_etal_Electronics.pdf.jpg10-jun-2019A Compact Model to Evaluate the Effects of High Level C++ Code Hardening in Radiation EnvironmentsReyneri, Leonardo M.; Serrano-Cases, Alejandro; Morilla, Yolanda; Cuenca-Asensi, Sergio; Martínez-Álvarez, Antonio
Acceso abiertoAponte-Moreno_etal_2023_MicroprocesMicrosyst.pdf.jpg12-nov-2022Evaluation of fault injection tools for reliability estimation of microprocessor-based embedded systemsAponte-Moreno, Alexander; Isaza-González, José; Serrano-Cases, Alejandro; Martínez-Álvarez, Antonio; Cuenca-Asensi, Sergio; Restrepo Calle, Felipe

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