Calculated energy loss of swift He, Li, B, and N ions in SiO2, Al2O3, and ZrO2

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Título: Calculated energy loss of swift He, Li, B, and N ions in SiO2, Al2O3, and ZrO2
Autor/es: Heredia-Avalos, Santiago | García Molina, Rafael | Fernández Varea, José M. | Abril, Isabel
Grupo/s de investigación o GITE: Interacción de Partículas Cargadas con la Materia
Centro, Departamento o Servicio: Universidad de Alicante. Departamento de Física, Ingeniería de Sistemas y Teoría de la Señal | Universidad de Alicante. Departamento de Física Aplicada
Palabras clave: Energy loss | Stopping power | Ions | Oxides | Dielectric formalism
Área/s de conocimiento: Física Aplicada
Fecha de publicación: 4-nov-2005
Editor: American Physical Society
Cita bibliográfica: HEREDIA-AVALOS, Santiago, et al. “Calculated energy loss of swift He, Li, B, and N ions in SiO2, Al2O3, and ZrO2”. Physical Review A. Vol. 72, No. 5 (2005). ISSN 1050-2947, pp. 052902-1/9
Resumen: We have calculated the electronic stopping power and the energy-loss straggling parameter of swift He, Li, B, and N ions moving through several oxides, namely SiO2, Al2O3, and ZrO2. The evaluation of these stopping magnitudes was done in the framework of the dielectric formalism. The target properties are described by means of a combination of Mermin-type energy-loss functions that characterize the response of valence-band electrons, together with generalized oscillator strengths to take into account the ionization of inner-shell electrons. We have considered the different charge states that the projectile can have, as a result of electron capture and loss processes, during its motion through the target. The electron density for each charge state was described using the Brandt-Kitagawa statistical model and, for He and Li ions, also hydrogenic orbitals. This procedure provides a realistic representation of both the excitation properties of the target electrons and the projectile charge density, yielding stopping powers that compare reasonably well with available experimental data above a few tens of keV/amu.
Patrocinador/es: This work was supported by the Spanish Comisión Interministerial de Ciencia y Tecnología (BFM2003-04457-C02-01 and BFM2003-04457-C02-02). S.H.A. thanks the Fundación Cajamurcia for financial support and J.M.F.V. expresses his gratitute for a travel grant from the Universitat d’Alacant.
URI: http://hdl.handle.net/10045/25379
ISSN: 1050-2947 (Print) | 1094-1622 (Online)
DOI: 10.1103/PhysRevA.72.052902
Idioma: eng
Tipo: info:eu-repo/semantics/article
Derechos: © 2005 The American Physical Society
Revisión científica: si
Versión del editor: http://dx.doi.org/10.1103/PhysRevA.72.052902
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