Probing a single nuclear spin in a silicon single electron transistor

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Título: Probing a single nuclear spin in a silicon single electron transistor
Autor/es: Delgado Acosta, Fernando | Aguado Sola, Ramón | Fernández-Rossier, Joaquín
Grupo/s de investigación o GITE: Grupo de Nanofísica
Centro, Departamento o Servicio: Universidad de Alicante. Departamento de Física Aplicada
Palabras clave: Single electron transport | Single Bi dopant | Silicon nanotransistor | Bi nuclear spin
Área/s de conocimiento: Física de la Materia Condensada
Fecha de publicación: 16-ago-2012
Editor: American Institute of Physics
Cita bibliográfica: DELGADO, F.; AGUADO, R.; FERNÁNDEZ-ROSSIER, J. "Probing a single nuclear spin in a silicon single electron transistor". Applied Physics Letters. Vol. 101, Issue 7 (2012). ISSN 0003-6951, pp. 072407-1/4
Resumen: We study single electron transport across a single Bi dopant in a silicon nanotransistor to assess how the strong hyperfine coupling with the Bi nuclear spin I = 9/2 affects the transport characteristics of the device. In the sequential tunneling regime we find that at, temperatures in the range of 100 mK, dI/dV curves reflect the zero field hyperfine splitting as well as its evolution under an applied magnetic field. Our non-equilibrium quantum simulations show that nuclear spins can be partially polarized parallel or antiparallel to the electronic spin just tuning the applied bias.
Patrocinador/es: This work has been financially supported by MECSpain (Grant Nos. FIS2010-21883-C02-01, FIS2009-08744, and CONSOLIDER CSD2007-0010) as well as Generalitat Valenciana, Grant Prometeo 2012-11.
URI: http://hdl.handle.net/10045/25279
ISSN: 0003-6951 (Print) | 1077-3118 (Online)
DOI: 10.1063/1.4746260
Idioma: eng
Tipo: info:eu-repo/semantics/article
Derechos: Copyright 2012 American Institute of Physics. This article may be downloaded for personal use only. Any other use requires prior permission of the author and the American Institute of Physics.
Revisión científica: si
Versión del editor: http://dx.doi.org/10.1063/1.4746260
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