Desarrollo de un sistema hiperespectral para la medida del color en muestras extensas con patrones espacialmente complejos
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http://hdl.handle.net/10045/16400
Title: | Desarrollo de un sistema hiperespectral para la medida del color en muestras extensas con patrones espacialmente complejos |
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Authors: | Ferrer Serrano, Edgar | Vilaseca Ricart, Meritxell | Pujol Ramo, Jaume | Arjona Carbonell, Montserrat |
Keywords: | Sistemas hiperespectrales | Medida del color | Patrones espacialmente complejos | Industria de la madera |
Knowledge Area: | Óptica |
Issue Date: | 2010 |
Publisher: | Universidad de Alicante. Servicio de Publicaciones |
Citation: | FERRER SERRANO, Edgar, et al. “Desarrollo de un sistema hiperespectral para la medida del color en muestras extensas con patrones espacialmente complejos”. En: IX Congreso Nacional del Color : Alicante, 29 y 30 de junio, 1 y 2 de julio de 2010. San Vicente del Raspeig : Publicaciones de la Universidad de Alicante, 2010. ISBN 978-84-9717-144-1, pp. 216-219 |
Abstract: | Cada vez son más los distintos dispositivos para la medida del color basados en sensores optoelectrónicos de imagen. En los últimos años se ha generalizado el uso de sistemas multiespectrales y, en particular, se han empezado a emplear sistemas hiperespectrales que combinan un sistema espectrográfico con una cámara monocromática capaz de realizar medidas de alta calidad con información espectral y espacial. Además, estos sistemas tienen la ventaja de proporcionar el espectro de cada uno de los píxeles de una línea de la imagen. En este trabajo se presenta el método de puesta a punto y validación de un sistema hiperespectral para fines colorimétricos y aplicados a muestras extensas con patrones espacialmente complejos. Para ello se ha desarrollado el software que permite obtener imágenes hiperespectrales de alta calidad y se han aplicado los algoritmos necesarios para la determinación de los espectros de reflectancia y diferencias de color de las muestras. También, se ha validado la incertidumbre del sistema comparando los resultados hallados con los obtenidos con un instrumento de referencia a través de la comparación de las curvas de reflectancia espectral. Por último se ha aplicado a la medida en muestras reales extensas con patrones espacialmente complejos, concretamente para aplicaciones relacionadas con la industria de la madera. |
Sponsor: | Ministerio de Educación y Ciencia (proyecto DPI2008-06455-C02-01). |
URI: | http://hdl.handle.net/10045/16400 |
ISBN: | 978-84-9717-144-1 |
Language: | spa |
Type: | info:eu-repo/semantics/bookPart |
Peer Review: | si |
Appears in Collections: | CNC2010 - Ponencias |
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