Límites debidos a las no linealidades del material de registro en la reconstrucción holográfica de microestructuras binarias

Please use this identifier to cite or link to this item: http://hdl.handle.net/10045/9501
Información del item - Informació de l'item - Item information
Title: Límites debidos a las no linealidades del material de registro en la reconstrucción holográfica de microestructuras binarias
Authors: Bányász, Istvan | Beléndez, Augusto | Fimia Gil, Antonio | Carretero López, Luis
Research Group/s: Holografía y Procesado Óptico
Center, Department or Service: Universidad de Alicante. Departamento de Física, Ingeniería de Sistemas y Teoría de la Señal | Universidad de Alicante. Departamento de Óptica, Farmacología y Anatomía | Universidad Miguel Hernández. Departamento de Ciencia de Materiales, Óptica y Tecnología Electrónica | Institute of Isotopes (Budapest)
Keywords: Holography | Holographic recording materials | Silver halide emulsions | Nonlinearities
Knowledge Area: Óptica | Física Aplicada
Date Created: 1995
Issue Date: Sep-1995
Publisher: Real Sociedad Española de Física | Universidad de Santiago de Compostela
Citation: BÁNYÁSZ, Istvan, et al. "Límites debidos a las no linealidades del material de registro en la reconstrucción holográfica de microestructuras binarias". En: XXV Reunión Bienal de la Real Sociedad Española de Física : Santiago de Compostela, 18-23 de Septiembre de 1995 : resúmenes de las comunicaciones / editado por R. Bravo Quintas, J. Salgado Carballo. Santiago de Compostela : Real Sociedad Española de Física, 1995, pp. 525-526
URI: http://hdl.handle.net/10045/9501
Language: spa
Type: info:eu-repo/semantics/bookPart
Peer Review: si
Appears in Collections:INV - GHPO - Comunicaciones a Congresos, Conferencias, etc.

Files in This Item:
Files in This Item:
File Description SizeFormat 
ThumbnailBienal_Santiago_XXV_p525_1995.pdf1,41 MBAdobe PDFOpen Preview


Items in RUA are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.